PXI 向量網路分析儀       >>型錄

減少測試設備的佔用空間

• 備有 6 種頻率範圍可供選擇（高達 26.5 GHz），您可以僅購買所需的頻率
• 獲得更出色的 PXI VNA 速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定性，可改進準確度，並提高良率和邊限
• 提供全雙埠 S 參數分析功能，僅佔用一個 PXI 插槽；讓您的 PXI 機箱能空出更多插槽來安裝其他元件
• 提供值得信賴的是德科技量測技術和校驗服務，以獲得可靠的量測結果
• 可級聯（cascade）多個模組，以獲得真正的多埠測試及全 N 埠測試功能

獲得通用的多埠和多網站測試功能

• 在單一機箱中增加多達 50 個埠
• 提供全 N 埠校驗功能
• 可將多個獨立的 VNA 配置到單一機箱中
• 可每台 VNA 可配置為雙埠或多埠
• 提供同步或非同步觸發

業界效能卓越的 PXIe 多埠 VNA

• 1 MHz 至 9 GHz
• 超高的量測速度，比其他同級產品快 30%
• 藉由縮短週期時間來降低測試成本：支援 2 埠校驗，掃描 201 點時為 5 ms
• 高達 160 dB 動態範圍
• 輸出功率達 17 dBm
• 準確配置所需的埠數
• 可配置的測試套件選項，方便使用者建立自己的 VNA 接收器組合
• 完整的 N 埠校驗、頻偏、基礎射頻脈衝、時域和增益壓縮分析

主要特色與功能

1. M9370A PXIe 向量網路分析儀，300 kHz 至 4 GHz

• 6 種頻率範圍可供選擇，最高可達 26.5 GHz，您可購買所需的頻率範圍
• 具有最出色的 PXI VNA 量測速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定度，可顯著改善準確度、良率和測試邊限
• 利用可插入單一 PXI 插槽的全雙埠 VNA 為測試系統增添新功能
• 可疊加多個機型以滿足多埠應用的需求
• 在多站配置中添加更多模組以提高測試速率並降低成本

2. M9371A PXIe 向量網路分析儀，300 kHz 至 6.5 GHz

• 6 種頻率範圍可供選擇，最高可達 26.5 GHz，您可購買所需的頻率範圍
• 具有最出色的 PXI VNA 量測速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定度，可顯著改善準確度、良率和測試邊限
• 利用可插入單一 PXI 插槽的全雙埠 VNA 為測試系統增添新功能
• 通可疊加多個機型以滿足多埠應用的需求
• 在多站配置中添加更多模組以提高測試速率並降低成本

3. M9372A PXIe 向量網路分析儀，300 kHz 至 9 GHz

• 6 種頻率範圍可供選擇，最高可達 26.5 GHz，您可購買所需的頻率範圍
• 具有最出色的 PXI VNA 量測速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定度，可顯著改善準確度、良率和測試邊限
• 利用可插入單一 PXI 插槽的全雙埠 VNA 為測試系統增添新功能
• 可疊加多個機型以滿足多埠應用的需求
• 在多站配置中添加更多模組以提高測試速率並降低成本

4. M9373A PXIe 向量網路分析儀，300 kHz 至 14 GHz

• 6 種頻率範圍可供選擇，最高可達 26.5 GHz，您可購買所需的頻率範圍
• 提具有最出色的 PXI VNA 量測速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定度，可顯著改善準確度、良率和測試邊限
• 利用可插入單一 PXI 插槽的全雙埠 VNA 為測試系統增添新功能
• 可疊加多個機型以滿足多埠應用的需求
• 在多站配置中添加更多模組以提高測試速率並降低成本

5. M9374A PXIe 向量網路分析儀，300 kHz 至 20 GHz

• 6 種頻率範圍可供選擇，最高可達 26.5 GHz，您可購買所需的頻率範圍
• 具有最出色的 PXI VNA 量測速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定度，可顯著改善準確度、良率和測試邊限
• 可插入單一 PXI 插槽的全雙埠 VNA 為測試系統增添新功能
• 可疊加多個機型以滿足多埠應用的需求
• 通在多站配置中添加更多模組以提高測試速率並降低成本

6. M9375A PXIe 向量網路分析儀， 300 kHz 至 26.5 GHz

• 6 種頻率範圍可供選擇，最高可達 26.5 GHz，您可購買所需的頻率範圍
• 具有最出色 PXI VNA 量測速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定度，可顯著改善準確度、產品良率和測試邊限
• 利用可插入單一 PXI 插槽的全雙埠 VNA 為測試系統增添新功能
• 可疊加多個機型以滿足多埠應用的需求
• 在多站配置中添加更多模組以提高測試速率並降低成本

7. M9485A PXIe 多埠向量網路分析儀，1 MHz 至 9 GHz

• 1 MHz 至 9 GHz
• 單一機箱最多可配置 12 個埠，兩個機箱最多可容納 24 個埠
• 使用全 N 埠校驗、FOM、脈衝、時域和增益壓縮分析功能，可降低測試成本
• PXI VNA 提供出色的速度、動態範圍、軌跡雜訊和穩定性，可改善量測準確度、提高產品良率並增加設計邊限
• 藉由縮短週期時間來降低測試成本：支援 2 埠校驗，掃描 201 點時為 5 msec
• 使用標配的測試套件和可配置測試套件的各種配置